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Ram Stress Test是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式,是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式,他其实是从其他的产品独立出来的一项测试,该公司专作系统测试的软硬体,方便生产厂商将产品做详细测试,至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍,因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题,所以是非常好用的一个测试工具!!
/ n( ~1 ~8 L7 n2 s- n1 d, } 使用非常简易,只要设定为软碟开机就行了,他是一个独立开发的系统,没有依附任何作业系统,相容于x86系列,只要BIOS认的到的容量他都能测!!
: Q Y. C- f$ {, _) G1 V; P$ S 如果你的系统有莫名其妙当机的状况或是想要超频记忆体,不用怀疑!用R.S.T.给他操下去!!
) ?+ A* N- Z3 O% Y/ | 这个软体满贵的,要500多美金
* R4 J; j* _9 n" B- D2 S 发现 ATS 选项错误,在BIOS中,记忆体选项设成Auto时,记忆体的CL=2,改成Manual,自设CL=2.5时,上述选项才能通过。
3 Q- X' `4 J& w9 G' a$ S 附件IMZ需要用winImage展开到软盘上,然后用此软盘启动系统。/ \) v* l& Y% C) ?' A5 E9 o
附件NRG是用Nero烧录可启动光盘的软盘镜像文件。* o5 k4 b; d& S! A b
程序执行后,第一选项是测试物理内存中基本内存地址(<640K),第二项是扩展内存地址,第三项是测试你CPU的L2 cache。. i: Q( {% R/ G5 z! B/ h I- {# h
内存检测Ram Stress Test.rar
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